溫測試快速溫變試驗(yàn)箱

溫測試快速溫變試驗(yàn)箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件在溫度快速轉(zhuǎn)變的情況下檢驗(yàn)產(chǎn)品的各項(xiàng)性能指標(biāo)。

產(chǎn)品型號：TEB-252PF
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-03-26
訪問量：179

立即咨詢

聯(lián)系電話：0769-81085066

產(chǎn)品詳情

品牌	廣皓天	?高溫室	?+60℃→+150℃
升溫時(shí)間?	?升溫+60℃→150℃≤25min	低溫室?	?+60℃→-10℃
降溫時(shí)間?	+20℃→-60℃≤60min	溫度沖擊范圍?	（60℃→-150℃）→（-40℃--10℃）
外殼材料	?防銹處理冷軋鋼板噴涂	內(nèi)箱	304不銹鋼
絕緣材料	硬質(zhì)聚氨酩泡沫塑料	制冷方式	機(jī)械式雙級壓縮制冷方式

溫測試快速溫變試驗(yàn)箱

快速溫變試驗(yàn)箱主要用于考察產(chǎn)品熱機(jī)械性能引起的失效，溫度變化率一般小于20℃/分鐘，實(shí)現(xiàn)以*快的速度真實(shí)再現(xiàn)所測樣件應(yīng)用環(huán)境條件。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時(shí)，溫度循環(huán)試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗(yàn)和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和工藝問題的有效方法。

溫測試快速溫變試驗(yàn)箱

溫解析精度溫分布均勻度	溫度：0.1℃ ；：0.1%R.H 溫度：±2.0℃ ；：±3.0%R.H.
溫控制精度	溫度：±0.5℃ ；：±2.5%R.H.
試驗(yàn)負(fù)載情況	空載狀況（溫度快速升降時(shí) ；無法與溫度保持同步的線性升降）
內(nèi)外部材質(zhì)	內(nèi)箱材質(zhì)為SUS 304#不銹鋼，外箱材質(zhì)為不銹鋼或SEE冷軋鋼加烤漆
保溫材質(zhì)	耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫即聚氨脂絕緣體材料
冷卻系統(tǒng)	水冷式
保護(hù)裝置	無熔絲開關(guān)、壓塑機(jī)過載保護(hù)開關(guān)、冷媒高低壓保護(hù)開關(guān)、超超溫度保護(hù)開關(guān)、保險(xiǎn)絲、故障警告系統(tǒng)、缺水報(bào)警保護(hù)
選購配件	帶操作孔玻璃內(nèi)門、記錄器、純水凈化機(jī) 、除濕機(jī)
壓縮機(jī)	法國“泰康"牌、德國“比澤爾"牌

快速溫變試驗(yàn)箱符合以下標(biāo)準(zhǔn)要求：
1、GB/T5170.2-2008 《溫度試驗(yàn)設(shè)備》；
2、GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1：2007) 《低溫試驗(yàn)方法Ab》；
3、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2：2007) 《低溫試驗(yàn)方法Bb》；
4、IEC 60068-2-14 2009 《環(huán)境試驗(yàn).第2-14部分試驗(yàn).試驗(yàn)N溫度的改變》。