HAST高壓加速老化試驗機

HAST高壓加速老化試驗機

特點配置介紹：

A、箱體結構：外箱采用A3板噴塑處理；內箱采用Sus316不銹鋼制成。

B、高精度測試系統(tǒng)：可靠溫度測試模塊+三菱PLC組成，高精度的整體控制系統(tǒng)。

C、本產品采用雙箱體測試結構:測試箱體和蒸汽發(fā)生器相互合作，獨立動作，與單箱體系統(tǒng)蒸汽在測試箱體生成不同，測試箱體（干）與蒸汽發(fā)生器（濕）間的相互干擾降到了低，此外，設置在測試箱體內溫度控制器的精度，則由內部加熱系統(tǒng)很好的保證著。因此，雙箱體可與單箱體媲美大跨度的濕度調節(jié)范圍，能為測試提供一個適當和穩(wěn)定的環(huán)境。而且偏壓測試可實施，高效可靠的測試非常重要，因為它能保證和傳統(tǒng)THB測試的緊密聯(lián)系和互動！

D、一鍵式電子門鎖（按鈕）和滑動托盤：使用電子門鎖只需按動按鈕，門就可以實現(xiàn)打開或關閉；滑動托盤可讓托盤與同同時打開，這樣使用者就無須在測試結束溫度高的時候將手伸入箱內取放樣品。

E、偏壓測試接頭：偏壓測試接線柱位于門上，方便接線，端子數(shù)量/電流可定制。

F、降壓方式：根據(jù)測試的目的不同，可選不同的降壓方式（三種模式可選）。

G、滿足多種測試方法：HAST非飽和蒸汽測試方法、PCT飽和蒸汽測試方法均可滿足！

H、安全排水：測試完成后的高溫水，經冷卻之后再排出！

HAST高壓加速老化試驗箱是在非飽和濕度(65%~100%RH可調)、溫

度、壓力等條件下，檢測產品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設備。

一般用來進行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗等，若待測品是半導體，則用

來測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境

下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲

入封裝體之中，常見的故裝原因:爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷

路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。