一、引言

二、對試驗箱部件的影響

（一）加熱元件損壞

1. 加熱絲斷裂或變形

• 干燒時，由于缺乏有效的散熱介質(zhì)（如水或空氣），加熱絲會在短時間內(nèi)積聚大量熱量，溫度急劇上升。這種高溫會導致加熱絲的材質(zhì)特性發(fā)生變化，使其強度降低、脆性增加。在熱應(yīng)力和自身重力等因素的作用下，加熱絲容易出現(xiàn)斷裂或嚴重變形。例如，常見的鎳鉻合金加熱絲在干燒溫度超過其額定溫度數(shù)百時，會迅速軟化并可能斷裂成幾段，從而失去加熱功能，需要更換新的加熱絲才能使試驗箱恢復正常加熱。

2. 加熱管表面損壞

• 對于加熱管，干燒會使管表面的涂層或材質(zhì)發(fā)生氧化、燒焦等現(xiàn)象。加熱管的表面涂層通常具有一定的防腐和絕緣作用，干燒導致的高溫會破壞這一涂層，使加熱管表面直接暴露在高溫環(huán)境中，加速氧化過程。例如，不銹鋼加熱管在干燒后，表面會出現(xiàn)變色、起皮等現(xiàn)象，降低了加熱管的絕緣性能和使用壽命，嚴重時還可能導致加熱管短路，影響試驗箱的電氣安全。

（二）傳感器故障

1. 溫度傳感器精度下降

• 干燒產(chǎn)生的高溫可能會超出溫度傳感器的正常測量范圍，即使傳感器未被直接損壞，其內(nèi)部的敏感元件也可能會因長時間處于高溫環(huán)境而發(fā)生性能變化。例如，熱敏電阻式溫度傳感器在高溫下可能會出現(xiàn)阻值漂移，導致測量精度下降。這會使試驗箱的控制系統(tǒng)接收到錯誤的溫度信號，進而無法準確控制加熱元件的工作，影響試驗箱的溫濕度控制精度，使后續(xù)試驗無法在準確的溫濕度條件下進行。

2. 濕度傳感器失效

• 在溫濕度試驗箱中，濕度傳感器通常依賴于特定的吸濕材料或原理來測量濕度。干燒時，箱內(nèi)濕度急劇下降，且高溫可能會使?jié)穸葌鞲衅髦械奈鼭癫牧习l(fā)生變性或損壞。例如，電容式濕度傳感器中的高分子吸濕膜在高溫下可能會失去吸濕能力，導致濕度傳感器無法正常測量濕度，給出錯誤的濕度數(shù)據(jù)，這對于需要精確濕度控制的試驗來說是非常嚴重的問題，可能會使試驗結(jié)果完失去參考價值。

（三）箱體內(nèi)壁及隔熱材料受損

1. 箱體內(nèi)壁變形變色

• 干燒產(chǎn)生的高溫會使箱體內(nèi)壁材料受熱膨脹。如果干燒時間較長或溫度過高，箱體內(nèi)壁可能會因無法承受這種熱應(yīng)力而發(fā)生變形，如出現(xiàn)凸起、凹陷等現(xiàn)象。同時，箱體內(nèi)壁的顏色也會因高溫氧化而發(fā)生改變，影響試驗箱的外觀和內(nèi)部環(huán)境的一致性。例如，鋁合金材質(zhì)的箱體內(nèi)壁在干燒溫度超過其軟化點后，會出現(xiàn)明顯的變形，而且表面會由原來的銀白色變?yōu)榘祷疑档土嗽囼炏涞恼w品質(zhì)。

2. 隔熱材料性能下降

• 試驗箱的隔熱材料主要用于減少箱內(nèi)與箱外的熱量交換，以提高能源利用率和試驗箱的控溫精度。干燒時的高溫會使隔熱材料的結(jié)構(gòu)發(fā)生變化，如一些有機隔熱材料可能會發(fā)生碳化、老化等現(xiàn)象，導致其隔熱性能大幅下降。這會使試驗箱在后續(xù)使用中難以維持穩(wěn)定的溫濕度環(huán)境，增加了能耗，并且可能影響試驗的重復性和準確性。例如，玻璃纖維隔熱材料在干燒后，其導熱系數(shù)可能會從原來的較低值上升數(shù)倍，使得箱內(nèi)熱量更容易散失，試驗箱需要消耗更多的能量來維持設(shè)定的溫濕度條件。

三、對試驗結(jié)果的影響

（一）溫濕度控制精度降低

1. 溫度波動增大

• 由于干燒導致加熱元件、溫度傳感器等部件的損壞或性能變化，試驗箱的溫度控制系統(tǒng)無法準確地調(diào)節(jié)箱內(nèi)溫度。加熱元件可能會出現(xiàn)加熱不均勻或過度加熱的情況，而溫度傳感器的不準確測量又會使控制系統(tǒng)做出錯誤的判斷和調(diào)整。例如，在一個需要精確控制溫度在 ±1°C 范圍內(nèi)的試驗中，干燒后溫度可能會出現(xiàn) ±5°C 甚至更大的波動，這對于一些對溫度敏感的產(chǎn)品測試或材料試驗來說，會使試驗結(jié)果產(chǎn)生極大的偏差，無法準確評估產(chǎn)品或材料在特定溫度下的性能。

2. 濕度失控

• 濕度傳感器的失效以及干燒對箱內(nèi)濕度環(huán)境的破壞，會使試驗箱的濕度控制完失去作用。在需要特定濕度環(huán)境的試驗中，如高濕加速老化試驗，干燒后箱內(nèi)濕度無法維持在設(shè)定值，可能會從設(shè)定的 90% RH 急劇下降到接近 0% RH，這會使試驗樣品所處的環(huán)境與預(yù)期環(huán)境相差甚遠，導致試驗結(jié)果的錯誤解讀，無法為產(chǎn)品的質(zhì)量評估或材料的性能研究提供可靠的數(shù)據(jù)支持。

（二）試驗數(shù)據(jù)可靠性降低

1. 數(shù)據(jù)偏差與錯誤

• 由于干燒引起的溫濕度控制精度降低，試驗過程中采集到的數(shù)據(jù)會存在較大偏差。這些偏差數(shù)據(jù)可能會誤導研究人員或工程師對產(chǎn)品或材料性能的判斷。例如，在一個電子產(chǎn)品的溫濕度循環(huán)測試中，干燒導致的錯誤溫濕度數(shù)據(jù)可能會使研究人員誤判該產(chǎn)品在實際使用環(huán)境中的可靠性，從而做出錯誤的產(chǎn)品改進或質(zhì)量控制決策，影響產(chǎn)品的市場競爭力和用戶滿意度。

2. 數(shù)據(jù)重復性差

• 干燒后的試驗箱在溫濕度控制方面難以達到穩(wěn)定和一致的狀態(tài)，即使對試驗箱進行修復，其溫濕度控制的重復性也可能受到影響。這意味著在相同的試驗條件下，多次試驗得到的數(shù)據(jù)可能會有較大差異，無法保證試驗結(jié)果的可重復性和可比性。例如，在材料的濕熱老化試驗中，干燒前進行的三次試驗得到的材料性能變化數(shù)據(jù)較為接近，但干燒后進行的試驗得到的數(shù)據(jù)與之前的結(jié)果相差甚遠，這使得對材料老化規(guī)律的研究變得困難，無法準確確定材料的使用壽命和性能變化趨勢。

四、總結(jié)